XRF- X熒光光譜儀產品介紹

XRF- X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

XRF- X熒光光譜儀性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到*水平 
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器產品&mdash信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上 
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

XRF- X熒光光譜儀技術參數

產品型號：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm&mdash99.99（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
分析精度：0.05 （含量高于96以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性） 
測量時間：30秒200秒 
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV50KV 
管流：50&muA1000&muA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V220V
環(huán)境溫度：15℃30℃ 
環(huán)境濕度：3570
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

XRF- X熒光光譜儀標準配置

高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探測器 
數字多道技術
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
內置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩(wěn)譜裝置 
三重安全保護模式 
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

XRF- X熒光光譜儀應用領域

XRF-X熒光光譜儀廣泛應用于合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素） 、鍍層檢測等行業(yè)。